Projekt RIUM -  Nadgradnje nacionalnih raziskovalnih infrastruktur, katerega vrednost znaša skoraj 29 milijonov eur, omogoča nakup sodobne raziskovalne infrastrukture, ki Univerzo v Mariboru kot tudi Slovenijo postavlja na zemljevid izjemne raziskovalne opreme. Marsikatera dobavljena raziskovalna...

Projekt RIUM –  Nadgradnje nacionalnih raziskovalnih infrastruktur, katerega vrednost znaša skoraj 29 milijonov eur, omogoča nakup sodobne raziskovalne infrastrukture, ki Univerzo v Mariboru kot tudi Slovenijo postavlja na zemljevid izjemne raziskovalne opreme. Marsikatera dobavljena raziskovalna oprema je edinstvena tako v Sloveniji ali celo širše. Po načelu odprtega dostopa je ta na razpolago tudi zunanjim strokovnjakom.

Ponosni smo, da vam lahko tudi tokrat predstavimo eno izmed takšnih naprav. Instrument je opremljen z ionsko puško, ki omogoča tvorbo klastrov plina argona in je v Sloveniji novost. Slednje je izrednega pomena pri globinskem profiliranju organskih materialov, da ne pride do porušitve kemije vzorca med procesom jedkanja. Tehnika XPS, včasih imenovana tudi elektronska spektroskopija v kemijski analizi ali kemijska analiza s spektroskopijo elektronov (angl. electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA), je primerna za preiskave materialov, posebej za analizo površin debeline nekaj nanometrov (elementne sestave in kemijskega okolja elementov). Oprema se bo uporabljala za površinsko analizo materialov, ki so obstojni v ultra visokem vakuumu.
 ​​
​Instrument XPS postavlja Univerzo v Mariboru na zemljevid raziskovalnih inštitucij z opremo za napredno površinsko analizo različnih materialov, kar je izjemnega pomena za razvoj stroke in znanosti. Uporaba XPS analizne tehnike je nasploh novost za Univerz​o v Mariboru.

Področje uporabe:
Uporabljala se bo kot temeljna in hitra karakterizacijska metoda pri analizi in razvoju novih materialov, za preučevanje njihove elementne sestave ter še pomembneje za preučevanje okolja elementov v vzorcu. Instrument omogoča avtomatsko kotno ločljivo meritev XPS, segrevanje ali hlajenje vzorca, hitro paralelno mapiranje in spektroskopijo XPS selektivnih mest vzorca (tudi do le nekaj mikronov površine).
 ​S tehniko XPS bomo tudi raziskovali interakcije med zdravilno učinkovino in tarčo (virusom). Temeljito poznavanje površine in kemijske strukture, ki se lahko zelo razlikuje od notranjosti zdravilne učinkovine, je namreč izrednega pomena za doseganje točno določenih lastnosti učinkovin.​

 ​

Površina materialov je zraven osnovnega materiala zelo pomembna za njihovo funkcionalnost. Kot primer uporabe tehnike XPS lahko navedemo uporabo za analizo zdravilnih učinkovin. Slednje je izrednega pomena, saj površina učinkovine določa interakcije učinkovin s ciljno skupino, kar prestavlja temeljni pogoj za učinkovito zdravljenje virusnih obolenj.  Spektrometer bo opremljen s puško s klastri ionov argona, kar bo omogočalo globinsko profiliranje organskih spojin in tako pridobivanje informacij o porazdelitvi vezave virusa na podlago glede na globino.

Pričakovani učinki:
Fotoelektroni (pogosto) prihajajo iz globine vzorca 1–5 nm – uporaba tehnike XPS je omejena na analizo površin in ne notranjosti samega vzorca. Vendar je instrument opremljen z ionsko puško izvora ionov argona ali ionov klastrov argona, ki omogoča jedkanje anorganskih in organskih materialov. Slednje omogoča pridobitev informacij tudi iz večjih globin vzorca.
 ​Tehnika XPS daje kvalitativne in kvantitativne info​rmacije o vzorcu. Omogoča razvoj in analizo naprednih materialov v znanosti, gospodarstvu in za namene vsakodnevnega življenja.

​
​

​

​

​Dobavljena raziskovalna oprema RIUM

Projekt financirata Republika Slovenija, Ministrstvo za izobraževanje, znanost in šport in Evropska unija iz Evropskega sklada za regionalni razvoj.
www.eu-skladi.si